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X射线荧光光谱分析中谱线重叠校正系数的测量
作者: 葛颖新 张环月 唐侠 沈阳产品质量监督检验院 沈阳110022 大连理工大学材料科学与工程学院 大连116023 沈阳黎明发动机公司技术中心 沈阳110043
关键词: X射线荧光光谱法 谱线重叠校正系数 基本参数法
摘要：应用整套标准样品法和基本参数（FP）法计算谱线重叠校正系数（K）效果较好。应用整套标准样品法需选用与被测样品具有相同基体和近似组成的标准样品;由于共存组分的谱线重叠的干扰常导致校正曲线产生较大的负截距,需通过多次迭代计算消除截距而使曲线通过原点,因为只有这样得到的K和M才是真值。实践中常有一些例子不能用整套标准样品法计算K值,例如钢中测定低含量铬时受到钒的重叠干扰问题。在此实例中除了钒对铬的谱线重叠干扰之外,还有仪器通道材料的干扰,此时,必须先用瑞利散射校正法消除此干扰后,选用铁基的标准样品,用FP法计算K值,可消除钒对铬的谱线重叠干扰。