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- · 关于对《焊缝无损检测 超声检测衍射时差技术（TOFD）的应用》等 两项国家标准征求意见的通知[09/24]
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X射线荧光光谱法分析IC10合金成分
作者: 张继民 ; 唐侠
关键词: X射线荧光光谱法 基本参数法 虚拟定值法 ICl0合金 主量元素 控制限元素
摘要：提出了X射线荧光光谱法测定IC10合金的主量元素及控制限元素含量的方法。采用虚拟定值法对限量元素进行定值，用基本参数法（单点标准比较法）对主量元素进行定值。结果表明：主量元素的相对标准偏差（n=11）均小于0．35％；控制限元素的相对标准偏差均小于2．0％。