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  《理化检验-化学分册》杂志创刊于1963年,系中国机械工程学会理化检验分会会刊,是由上海科学院主管、上海材料研究所主办的技术类刊物,大16开本,每月18 ...
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能量色散X射线荧光探针用于古陶瓷的工艺与产地研究

作者: 李清临 [1] ; 王然 [1] ; 姚政权 [2] ; 贺世伟 [1]

关键词: 能量色散X射线荧光探针 旧县坪遗址 古陶瓷

摘要:利用能量色散X射线荧光(EDXRF)探针技术,研究了旧县坪遗址出土的一件青瓷样品的制造工艺与产地。从青瓷样品的器壁部,用切割法取下一个断面,用探针进行线性扫描分析。结果表明:在胎釉间存在的白色层状物的化学成分介于胎釉之间,断定其应为在烧制过程中经一系列理化反应而形成的反应层。经对该青瓷样品胎釉化学成分的聚类分析,发现其与宋代河南临汝窑青瓷的胎釉化学成分基本一致。并且,该样品与临汝窑青瓷在釉色和装饰风格上都相近。因此,旧县坪遗址的这件青瓷样品应为临汝窑制品。


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