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X射线荧光光谱法测定废塑料表面涂层中8种元素的含量
作者: 黄世杰 张建波 应海松 蔡曹盛 李雪莲 北仑出入境检验检疫局 宁波315800
关键词: X射线荧光光谱法 元素 涂层 废塑料
摘要：采用X射线荧光光谱法测定废塑料表面涂层中8种元素的含量。考察了样品杯、基材以及金属涂层中元素效应对检测结果的影响。P、Si、Fe、Pb、A1、Cu、Cr和Ni的测定范围在0．002％～52．0％之间，检出限在0．0002％～O．0008％之间。采用本方法测定废塑料样品表面涂层中元素含量，结果与ICP—AES测定结果一致，测定值的相对标准偏差（n=7）小于1％。